Evaluation of photogrammetric methods for fast identification of defects

Z przyjemnością prezentujemy naszą publikację w wydawnictwie SIGMA – NOT pod tytułem: Evaluation of photogrammetric methods for fast identification of defects
Tomasz Kraszewski, Radosław Sokół, Artur Pasierbek, Marcin Połomski, Anna Piwowar
https://www.sigma-not.pl/publikacja-140386-evaluation-of-photogrammetric-methods-for-fast-identification-of-defects-przeglad-elektrotechniczny-2022-11.html

DOI: https://doi.org/10.15199/48.2022.11.56